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本文介绍一种用微型计算机测试数字LSI器件的经济、实用的方法。用这种方法可以动态地测试器件的全部逻辑功能、器件的时间响应(即工作速率)特性。文中着重介绍测试原理、方法,并通过实例简要说明在测试中应考虑的因素。 相似文献
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