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小型数字集成电路测试仪的设计和实现
引用本文:张玲,李同瀚,梅军进. 小型数字集成电路测试仪的设计和实现[J]. 黄石理工学院学报, 2015, 0(1): 27-29
作者姓名:张玲  李同瀚  梅军进
作者单位:湖北理工学院计算机学院,湖北黄石,435003
基金项目:湖北理工学院大学生创新项目(项目编号13cx25);湖北理工学院创新人才项目(项目编号13xjz05c);湖北省自然科学基金项目(项目编号2014 CFC1091)。
摘    要:为对小型数字集成芯片进行测试和诊断,以89C51为微控制器芯片(MCU),74HC595和74HC165为被测电路的测试引脚扩展芯片,提出了一种数字集成电路测试仪的实现方案。利用MCU芯片对数字集成电路的测试引脚进行信号采集,通过比对后检测电路是否存在逻辑错误,并将结果发送到液晶显示器上显示。该系统结构简单,可以准确地对组合数字集成电路进行测试。

关 键 词:测试信号  微控制器  数字集成电路

Design and Realization of Small Digital Integrated Circuits Tester
Zhang Ling,Li Tonghan,Mei Junjin. Design and Realization of Small Digital Integrated Circuits Tester[J]. Journal of Huangshi Institute of Technology, 2015, 0(1): 27-29
Authors:Zhang Ling  Li Tonghan  Mei Junjin
Affiliation:Zhang Ling;Li Tonghan;Mei Junjin;School of Computer,Hubei Polytechnic University;
Abstract:
Keywords:testing signals  MCU  digital integrated circuits
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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