基于相控阵超声检测参数的研究

应用相控阵超声检测众多参数的可调节性,推导了相控阵超声波分布状态,提出调节晶片数目、发射频率、偏转角度为基础的研究方法。讨论了晶片数目、发射频率、偏转角度对其它检测参数的影响和检测结果的相关性,以及检出的限制条件。设计了当不同的晶片数值、发射频率、偏转角度进行验证。实验测得各种变量得到的结果分布、实验值与理论设计基本一致。