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| X射线荧光光谱测定纯铜样品中微量和痕量杂质元素 | |
| 引用本文： | 宋武元,钟沛余,梁静,郑建国.X射线荧光光谱测定纯铜样品中微量和痕量杂质元素[J].检验检疫科学,2003,13(5):19-22. |
| 作者姓名： | 宋武元 钟沛余 梁静 郑建国 |
| 作者单位： | 广州检验检疫局 |
| 摘 要： | 以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景.用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX-9来测定,开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中除Cu外18个痕量杂质元素的方法.用该方法测定纯铜标准样品,其测试结果与直读光谱测定值基本相符,回收率在95%～105%范围,各元素的相对标准偏差RSD%均小于5.0% |
| 关 键 词： | 纯铜 X射线荧光光谱 基体效应校正 理论α系数 干扰曲线法 |
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