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DF检验式中漂移项和趋势项的t统计量研究
引用本文:张晓峒,攸频.DF检验式中漂移项和趋势项的t统计量研究[J].数量经济技术经济研究,2006,23(2):126-137.
作者姓名:张晓峒  攸频
作者单位:南开大学国际经济研究所
摘    要:DF统计量的渐近分布决定于估计的回归中,是否包含一个常数项α或时间趋势δ以及真实随机行走是否有非零漂移项表征,故通常的DF检验过程中包含三种检验式(不含α和δ、只含α、含α和δ)。针对α和δ及其t统计量的分布特征的研究甚少,对它们的极限分布未见有全面的推导,且关于单个回归参数检验统计量的响应面函数目前还无人提供。本文的贡献在于推导了不同检验式中α和δ的t检验统计量的极限分布表达式,并通过蒙特卡罗模拟结果分析了α和δ及其t统计量的分布特征,在此基础上给出有限样本下各检验统计量的响应面函数,从而使得DF检验进一步完善。

关 键 词:单位根检验  Wiener过程  蒙特卡罗模拟  响应面函数

Distribution of the t-Statistics of the Drift and the Time Trend for Unit Root Test
Zhang XiaoDong;You Pin.Distribution of the t-Statistics of the Drift and the Time Trend for Unit Root Test[J].The Journal of Quantitative & Technical Economics,2006,23(2):126-137.
Authors:Zhang XiaoDong;You Pin
Abstract:
Keywords:Unit Root Test  Wiener Process  Monte Carlo Simulation  Response Surface Function
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