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| VLSI自动测试系统技术最新发展 | |
| 引用本文： | 时万春.VLSI自动测试系统技术最新发展[J].电子商务,1997(10). |
| 作者姓名： | 时万春 |
| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 摘 要： | 回顾了ＶＬＳＩ自动测试系统（ＡＴＳ）发展历程，介绍了ＶＬＳＩＡＴＳ发展现状，并提出了未来发展中可能引起ＡＴＳ发展突破的若干新技术和新思想。 |
| 关 键 词： | VLSI自动测试系统（VLSIATS） 管脚位向量处理 多路器 一体化测试仪 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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