| VXI总线测试系统的优化方案 |
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| 引用本文： | 孔敏,鞠建波.VXI总线测试系统的优化方案[J].国际商务研究,2002,42(5):51-54. |
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| 作者姓名： | 孔敏 鞠建波 |
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| 作者单位： | 海军航空工程学院电子工程系 山东烟台264001
(孔敏)，海军航空工程学院电子工程系 山东烟台264001(鞠建波) |
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| 摘 要： | 概述了VXI总线器件的分类，讨论了VXI总线消息基器件和寄存器基器件的特点，以及在测试系统中2种器件对测试吞吐量和程序设计的影响，并提出了优化测试系统的方案。
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| 关 键 词： | VXI总线 测试系统 优化方案 消息基器件 寄存器基器件 测试吞吐量 |
| 修稿时间： | 2002/2/28 0:00:00 |
Optimization Scheme of VXIbus Test System |
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| KONG Min,JU Jian-bo.Optimization Scheme of VXIbus Test System[J].International Business Research,2002,42(5):51-54. |
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| Authors: | KONG Min JU Jian-bo |
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| Abstract: | This paper summarizes the classification of VXIbus devices, then discusses the characteristics of VXIbus message-based and register-based devices, as well as the influence of these devices on system throughput and programming. Solutions to optimize the test system are presented. |
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| Keywords: | Test system VXIbus Message-based device Register-based device Test throughput Optimization |
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