微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响 |
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引用本文: | 王向阳,郑星,何洪涛,高向东.微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响[J].国际商务研究,2010,50(5). |
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作者姓名: | 王向阳 郑星 何洪涛 高向东 |
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作者单位: | 解放军63880部队,河南 洛阳 471003;解放军63880部队,河南 洛阳 471003;解放军63880部队,河南 洛阳 471003;解放军63880部队,河南 洛阳 471003 |
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摘 要: | 利用电磁场和误差分析理论,在阐述天线远场测量条件的基础上,分析了微波暗室
有限测试距离对天线远场测量的影响,建立了误差模型,并结合实例说明了微波暗室有限测
试距离对天线场强测量、增益测量的影响。分析结论可为实践中快速准确地确定适合在微波
暗室内进行测量的天线尺寸和频率范围提供具体的技术指导。
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关 键 词: | 天线 远场测量 微波暗室 测试距离 误差模型 |
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