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微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响
引用本文:王向阳,郑星,何洪涛,高向东.微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响[J].国际商务研究,2010,50(5).
作者姓名:王向阳  郑星  何洪涛  高向东
作者单位:解放军63880部队,河南 洛阳 471003;解放军63880部队,河南 洛阳 471003;解放军63880部队,河南 洛阳 471003;解放军63880部队,河南 洛阳 471003
摘    要:利用电磁场和误差分析理论,在阐述天线远场测量条件的基础上,分析了微波暗室 有限测试距离对天线远场测量的影响,建立了误差模型,并结合实例说明了微波暗室有限测 试距离对天线场强测量、增益测量的影响。分析结论可为实践中快速准确地确定适合在微波 暗室内进行测量的天线尺寸和频率范围提供具体的技术指导。

关 键 词:天线  远场测量  微波暗室  测试距离  误差模型
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