腔内气压对IGBT Si沟槽刻蚀速率的影响 |
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作者姓名: | 王云飞 付毅峰 高志廷 |
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作者单位: | 1. 河南机电职业学院智能工程学院;2. 北京理工大学材料学院 |
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基金项目: | 河南省科技计划资助项目:六自由度并/串联机器人运动学“等键距差(BLD)”算法的开发,项目编号:162102210320; |
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摘 要: | IGBT是新能源汽车的核心部件,主要用于电力驱动、充电桩、车载空调等系统,第5代IGBT沟槽刻蚀技术对Si基的刻蚀工艺要求很苛刻。腔内气压影响刻蚀速率的因素包括离子轰击效应、化学反应速率、物理碰撞效应。采用ICP601型等离子体刻蚀机,F基气体对光刻后的Si片进行沟槽刻蚀。结果表明,前期随着气压的增加,刻蚀速率增大,当气压为5 Pa时,刻蚀速率达到最大值0.24μm/min,中后期随着气压的增大,刻蚀速率减小。
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关 键 词: | 新能源汽车 IGBT 光刻 刻蚀 |
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