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腔内气压对IGBT Si沟槽刻蚀速率的影响
作者姓名:王云飞  付毅峰  高志廷
作者单位:1. 河南机电职业学院智能工程学院;2. 北京理工大学材料学院
基金项目:河南省科技计划资助项目:六自由度并/串联机器人运动学“等键距差(BLD)”算法的开发,项目编号:162102210320;
摘    要:
IGBT是新能源汽车的核心部件,主要用于电力驱动、充电桩、车载空调等系统,第5代IGBT沟槽刻蚀技术对Si基的刻蚀工艺要求很苛刻。腔内气压影响刻蚀速率的因素包括离子轰击效应、化学反应速率、物理碰撞效应。采用ICP601型等离子体刻蚀机,F基气体对光刻后的Si片进行沟槽刻蚀。结果表明,前期随着气压的增加,刻蚀速率增大,当气压为5 Pa时,刻蚀速率达到最大值0.24μm/min,中后期随着气压的增大,刻蚀速率减小。

关 键 词:新能源汽车  IGBT  光刻  刻蚀
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