浅析电子元器件的失效分析技术 |
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引用本文: | 王德权.浅析电子元器件的失效分析技术[J].科技与企业,2013(7):308. |
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作者姓名: | 王德权 |
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作者单位: | 大庆南垣集团股份有限公司 |
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摘 要: | 目的对电子元器件的失效分析技术进行研究并加以总结。方法通过对电信器类、电阻器类等电子元器件的失效原因、失效机理等故障现象进行分析。结论电子元器件的质量与可靠性保证体系一个重要组成部分是失效分析,对电子元器件进行失效分析,才能及时了解电子元器件的问题所在,才能为设备及系统的正常工作带来可靠保障。
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关 键 词: | 电子元器件 失效分析技术 研究 失效原因 保障 |
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