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集成运放在可靠性筛选中致命性失效现象的分析
引用本文:徐国治,于谟.集成运放在可靠性筛选中致命性失效现象的分析[J].国际商务研究,1987(6).
作者姓名:徐国治  于谟
作者单位:西安交通大学,西安交通大学
摘    要:本文研究了低功耗集成运算放大器在可靠性筛选中出现的致命性失效现象,提取了必要的模型参数,藉助于Spicc-Ⅱ程序进行了失效现象的分析.模拟结果与实验的模式较为符合.

关 键 词:运算放大器  失效现象分析  可靠性

Deathful- Failure Phenomenon Analysis of An Integrated Operational Amplfier In Sieving Reliability
Xu Guo-Zhi,Yu Mo,Xi''an Jiaotong University.Deathful- Failure Phenomenon Analysis of An Integrated Operational Amplfier In Sieving Reliability[J].International Business Research,1987(6).
Authors:Xu Guo-Zhi  Yu Mo  Xi'an Jiaotong University
Abstract:
Keywords:Operational Amplifier  Failure Phenomenon  Reliability
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