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| 危险基因——发现中国企业家群体的领导力缺陷 | |
| 作者姓名： | 本刊编辑部 金错刀 申音 |
| 作者单位： | Hay(合益)集团 |
| 摘 要： | Hay(合益)集团联手《中国企业家》的研究首次梳理绘制出中国企业领导者的“基因图谱”,而其中最值得警惕的是潜伏在他们身上的四大“危险基因” |
| 关 键 词： | 《中国企业家》 基因图谱 企业家群体 危险 领导力 缺陷 企业领导者 集团 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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