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| 用双为微镜测量表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序 | |
| 引用本文： | 王继平,蒋大文.用双为微镜测量表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序[J].四川标准化与计量,1997(4):39-41. |
| 作者姓名： | 王继平 蒋大文 |
| 摘 要： | 本文介绍了用双管显微镜测量轮廓线采样点坐标值的方法。同时，提出了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。 |
| 关 键 词： | 表面粗糙度 双管显微镜 评定参数 测量 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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