X射线定向仪的稳定度测定及分析

1、概述X射线定向仪是对单晶体的各晶面在空间相互排列角度进行精密测定的一种光学检测仪器。它实质是方程式nλ=2dsinθ一种表达形式。用3～4倍的铜靶X射线管的激发管电压(30kV),利用铜靶的kа特征谱线(波长λ=0.154nm)投射到已知单     

X射线在焊接质量检测中的应用

文章对X射线产生的机理与性质进行了介绍,同时结合部分焊接典型事例,对其质量检测应用进行了分析。     

X射线检测领域的自动化

在制造行业中，为降低生产消耗，自动化已经成了势在必行的事了。它不仅能得到较多的产品，而且使产品更合乎要求。与此同时，质量检查部门也显得日益重要，以保证出厂产品完全符合特定和理想的要求。     

长宁区医用X射线装置周围环境辐射监测及分析

为了了解长宁区医用射线装置辐射防护现状,论文提出了两种快速判别泄露点位的方法并验证其可行性。依据相关要求,论文对29家单位共52台X射线装置周围环境辐射水平进行了监测。结果显示,测点最大年有效剂量估算值在8.6×10^-3~1.41×10^-1mSv,对探头屏蔽与否的监测结果相差较大。监测结果均满足GB 18871—2002对公众剂量的限制要求,因此,论文提出的探头屏蔽准直判别法和旋转视线法可行并有效。     

X射线分析方法的研究及其应用

X射线衍射分析技术是一种现代物理分析技术,已广泛应用于我国科学研究的各个领域,如医药分析、地质、土壤分析、生物、微生物检测、金属、无机非金属检测等,并发挥着不可替代的作用。X射线分析技术将在我国和世界上不同学科领域中发挥更大更新的作用。     

X射线探伤机房的屏蔽设计

X射线探伤是现代常规无损检测方法之一.只有进行有效的防护才能保证职业操作人员和公众的安全.本文主要介绍了如何计算X射线探伤室的防护墙和防护门的厚度.     

提高和改善X射线荧光光谱仪检测精度的方法

介绍了影响X射线荧光光谱仪检测精度的各种因素和提高改善其检测精度的方法。     

X射线荧光光谱仪的维护和保养

主要介绍了X射线荧光光谱仪维护和保养以及使用时的有关事项,从提高设备性能和减少设备故障率几个方面进行了论述。     

X射线检测装置在轮胎翻新上的应用

本文论述了轮胎翻新的重要性,简要介绍了国内外翻新轮胎情况、国内轮胎翻新面临的现状、巨大的市场需求以及制约因素。根据翻新轮胎的生产技术和市场需求等方面提出了X射线检测装置在轮胎检测上的应用及其必要性,以现有国产设备为例,描述了轮胎X射线检测过程和检测效果,从而证明了X射线检测装置在轮胎胎体检测上应用的重要性。     

基于光电二极管的X射线反馈控制系统设计

光电二极管由于响应快、灵敏度高、性能稳定、测量线性好、噪声低而被广泛用于光电检测电路中。本文以天津艾米克斯医疗器械有限公司研制生产的高频全景X射线机夹缝曲面断层摄影过程中X射线强度反馈控制为例,介绍了一种基于光电二极管的X射线反馈系统。     

一种X射线影像的几何畸变校正方法

针对在工业X射线检测中图像通过像增强器中的透镜成像后产生的图像几何畸变（桶形失真或枕形失真）,提出了一个简单易行的图像校正模型。并通过对大量BGA（球栅阵列结构的PCB）图像的较正验证,证实了该模型在一定程度上可以对普通像增强器的图像畸变进行较好的校正还原。     

医用诊断X射线辐射源空气比释动能率测量结果的不确定度分析

对医用诊断X射线辐射源空气比释动能率测量结果的不确定度进行分析。     

工业用X射线探伤机的应用与防护措施

工业用X射线探伤机的应用越来越广泛,本文主要介绍无损检测X射线探伤的工作原理及其应用,以及X射线探伤时应采取的辐射防护、安全管理措施;同时也对目前我国辐射防护措施的不足之处进行相关的论述。     

对医用X射线辐射源检定中遇到问题及解决方法的研究

本文主要研究医用X射线辐射源检定中遭遇到的疑问,并提出解决措施。检定进程中,把医用X射线辐射源用作医用三原的主要案例加入监督中,然后检测其检定进程中的问题,提出解决措施,并引入示值相对误差来表示其检定准确性。在使用过程中,要注意保证检定数据的准确性及人员操作的正确性,在使用的过程中要按照保护要求操作,做到安全使用。     

提议的ASTM标准将使用X射线光谱测定法来检测铅含量

玩具和其他消费者产品中将再也不能含有铅。《消费者产品安全法案》对此作出了严格规定，并提供了使用X射线光谱测定法来检测铅含量。     

X射线法多晶材料残余应力的测量

本文主要阐述了X射线法测量残余应力的基本原理、特点和测量时应注意的问题.     

X射线测量InGaN多量子阱的厚度组分及应变

高分辨率X射线衍射具有不损伤样品,无污染、高精度等优点,能够得到有关晶体的完整信息,是研究薄膜性质的重要手段之一。本文采用高分辨X射线衍射得到InGaN/GaN样品的ω/2θ扫描图和倒易空间图,研究InGaN/GaN样品的应变和组分、InGaN/GaN多量子阱的平均组分级厚度周期。从倒易空间图像得出的晶格常数与由002面和105面摇摆曲线所计算出的晶格常数相比较,垂直晶格常数符合得很好,而水平方向的晶格常数则有较大的差别,可以认为从倒易空间图像中得出的晶格常数更为准确。     

基于X射线荧光光谱法测定煤中常量和微量元素

采用硼酸镶边垫底的粉末样品压片制样,用Bruker-axs公司的S4 PioneerX射线荧光光谱仪对多煤田勘探样品中Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、SiO2等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法、变动α系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07401—GBW07408水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Sc和Th<14.00%以外,其余各组分均小于5.00%。