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硫精矿作为硫铁矿烧渣的主要原料,铁、硫、铅、锌、砷等元素含量直接影响产品硫铁矿烧渣的质量。在对硫精矿多种元素进行同时分析过程中,传统化学分析存在一定滞后性,对指导生产存在一定的限制。为快速取得可靠结果,实验采用粉末压样,波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)同时测定硫精矿中铁、硫、砷、铅、锌,根据样品中硫元素含量的差距建立三条工作曲线,采用经验系数法对各曲线进行基体效应校正,同时启用X荧光仪条件选择程序(APS),样品初测后,仪器根据硫的计数率自动选择适宜的工作曲线再测一次出具最终结果。实验发现,粒度74μm的样品在压力为40t、保压25s条件下制备的样片能有效改善粒度效应对荧光强度的影响。方法用于实际样品分析,铁、硫、砷、铅、锌的相对标准偏差(RSD, n=11)分别为0.18%~0.20%、0.24%~0.26%、2.0%~3.9%、4.3%~4.5%、1.8%~2.0%,分析结果和传统化学分析方法结果一致。 相似文献
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对钢丝绳芯输送带在线检测的各个阶段的发展进行介绍,对各个阶段的优缺点进行比较。其中重点介绍钢丝绳芯输送带X射线在线检测装置,对X射线在线检测装置的工作原理及优点进行详细介绍。 相似文献
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介绍X射线荧光法测定炉渣中的铬含量,包含讨论仪器的工作条件、标准样片及分析样片的制备等;针对操作过程中存在的问题进行描述,并通过实际操作论证选择合适的实验条件。 相似文献
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为了满足安全检查要求,X射线安检仪目前已经在机场、车站、会议中心等场所得到了广泛应用。在应用X射线安检仪的过程中,受使用频率和人为因素的影响,经常会出现技术性能参数的变化、发生各种故障。探究X射线安检仪的工作原理和成像方法以及常见故障的诊断方法,希望为该领域的技术人员提供参考。 相似文献
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在荷兰帕纳科公司提供的X射线荧光光谱基本参数法半定量分析的SemIQ软件基础上进行钨精矿WO3的分析,用黑、白钨精矿的样品进行化学定值分析其中WO3、P、As、Ca、Cu、Sn、SiO2、Mo、Mn含量,采用粉末压[1]片法加入一定量粘合剂制备成标样,重新建立一套半定量分析方法,提高了钨精矿WO3分析的准确度。应用该方法进行了大量钨精矿中WO3的半定量分析,并与原软件方法对比,WO3分析结果明显改善。 相似文献
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以尿素和氢氧化钠为沉淀剂通过共沉淀的方法合成了铁酸钴包覆空心玻璃微球的前驱物样品,经过热处理后,形成铁酸钴包覆空心玻璃微球化合物。这些化合物的相结构、微观形貌和磁学性质由X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)和振荡样品磁强计(VSM)进行表征。通过这些分析显示,以尿素为沉淀剂制备的铁酸钴包覆层比较均匀连续,其晶化程度和磁学性质也比较好。 相似文献
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以V2O5粉末为原料,采用无机溶胶-凝胶法制备了V2O5凝胶膜,先经过在空气中的热处理后再经过真空退火处理得到了以VO2为主相的薄膜。利用X射线衍射和金相显微镜对不同实验条件下得到的薄膜的物相和表面形貌进行分析,得出了VO2薄膜物相及显微组织与真空退火条件之间的关系。 相似文献
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二氧化钛(TiO_(2))具有无毒、成本低、光氧化能力强、物理化学稳定性好等特性,目前被认为是最有前途的半导体材料之一。文章采用了简便的水热法合成了TiO_(2)纳米颗粒,并经过不同的煅烧温度处理得到目标样品,采用XRD、TEM等测试及粒径分布统计对样品进行了表征。分析结果表明煅烧温度对TiO_(2)物相的组成、结晶性和晶粒尺寸有重要的影响。同时,比较Rietveld精修、传统的谢乐公式和W-H方法对TiO_(2)的平均晶粒尺寸分析,结果表明这三种方法得到TiO_(2)的晶粒尺寸大小比较符合,且随着煅烧温度的升高而增大。通过TEM进一步验证了随温度的升高,TiO_(2)的晶粒尺寸和形貌也呈规律性变化。 相似文献
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采用原位动态红外光谱和广角X射线衍射的方法,研究了尼龙12在升温过程中的结构变化。结果表明,等温结晶的尼龙12为γ晶型,该晶型对应的红外吸收谱带为1 340 cm-1、1 327 cm-1、1 308 cm-1和979 cm-1。热历史对尼龙12的晶体结构影响较大,150℃等温结晶样品和自然冷却样品的结晶度先增大后减小,90℃时结晶度达到最大值,而室温淬火样品的结晶度则呈现减增减的趋势;晶粒尺寸随着温度的升高先增大后减小,自然冷却样品的晶粒尺寸比室温淬火和等温结晶样品的尺寸要大,并且出现两个峰值;晶面间距随着温度的升高而增大,室温淬火样品在120℃时有二次结晶的出现。 相似文献