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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 62 毫秒
1.
电阻率是描述半导体材料性能的重要参数之一,四探针技术是测量半导体材料电阻率的主要手段,并且已经广泛地应用于半导体制造工艺及检测。文章重点讨论了直线四探针技术的基本原理和测量方法,对RTS-8型四探针测试仪在使用过程中出现的一些非理想因素进行了深入讨论,分析引起测量误差的主要因素,找出影响测量精度的主要原因,探寻提高测量精度的方法。  相似文献   

2.
张衍 《民营科技》2011,(7):22-22
基于内容的图像检索技术符合用户的实际需求,重点需要研究合适的图像特征提取方法和相似性度量标准。所以,特征提取是CBIR系统最关键的部分,在很大程度上决定了整个系统的成败。高层的图像语义往往建立在较低层次语义获得的基础上,并且层次越高语义越复杂,涉及的领域也越多。要想很好的利用图像的语义特征,就要减小图像简单视觉特征与丰富语义之间的语义鸿沟(Semantic Gap),促使计算机检索图像的能力达到人的理解水平,但这是较为困难的。目前较为热门的CBIR技术仍是集中在基于颜色、纹理、形状等基本视觉特征的检索。下面就以基本视觉特征的研究为主详细介绍CBIR技术的内容及进展分析。  相似文献   

3.
唐磊 《科技与企业》2012,(2):153-154
由于信息技术的飞速发展,用户对信息检索的质量要求也越来越高,特别是在图片检索方面,基于文本的图像检索技术(TBIR)已逐渐不能满足用户的需求。基于内容的图像检索技术(CBIR)开始被关注,CBIR技术检索的特征包括颜色特征、纹理特征、形状特征、空间位置关系等。本文介绍基于颜色特征的几种检索方法基本原理和实现过程。  相似文献   

4.
周杰  范佩佩  于苗  白永恒 《价值工程》2022,(32):166-168
质量流量计分为直接测量和间接测量或推导式测量和补偿式测量,广泛应用于各种气体质量流量测试场合。科里奥利质量流量计(Coriolis Mass Flow-CMF)采用直接测量的方法,其原理是流体在旋转体系中做直线运动时产生的科里奥力和流体的质量流量成正比。具有稳定度高、可靠性高、量程大、可直接测量管道内流体的质量,在半导体制造中常用来测量弥散性高粘度的流体[1]。  相似文献   

5.
马鹏 《物流技术》2014,(4):40-42
1引言 安捷伦科技贸易有限公司以下简称“安捷伦”,是安捷伦成立的全资子公司,其目的是为其在中国的制造业客户发展完整的供应链。安捷伦业务多样化,拥有测试/测量、半导体产品、自动测试、化学分析/生命科学四个事业部,产品包括手机测试设备、光纤元器件、发光二极管、测试半导体制造的传动装置、电子分析示波器和用于试验的气体层析计质谱仪等,从小批量、高价值的半导体测试设备到以亿为单位出货的光电元器件。  相似文献   

6.
TDLAS技术主要是利用可调谐半导体激光器的波长与窄线宽随注入电流改变的特性,对单个或者距离相近的几个难以分辨的吸收线进行测量;具有高选择性、同时测量多组分、反应速度快、灵敏度高等方面的优点;将TDLAS技术应用在环境大气检测中,能够有效地解决现行大气在线检测系统的众多缺点.分析了大气在线检测系统的缺点以及TDLAS技术的优点,并探析了TDLAS技术在环境大气检测中的应用.  相似文献   

7.
高值电阻的测量技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
在物理研究和工业生产中广泛应用着各类高值电阻器及高值电阻测量仪器,需要进行各种形式的高值电阻测量。各电工、电子、无线电电路及电器设备中大量使用的各种高值电阻器有:线绕电阻器、金属膜电阻器、合成膜电阻器、碳膜电阻器等等。高值电阻测量包括:半导体材料及其器件的性能参数测量,放射性及电离辐射测量,真空测量,绝缘材料及其它材料的电性能测量,物质及材料的理化分析等;因此,高值电阻标准和测量技术是生产和科研的重要手段,是电计量和电测技术研究的重要任务之一。高值电阻测量通常是和微电流测量相联系的。  相似文献   

8.
半导体测试时间直接影响到整个半导体测试的成本,文章提出了一种缩短半导体测试时间的新方法——并发测试。并发测试技术可以在保证测试覆盖率的前提下显著地缩减测试时间,提高半导体测试设备硬件资源的利用率。文章分析了实现并发测试需要的先决条件,阐述了应用并发测试方法的实现流程,并给出了应用并发测试方法节省测试时间的实例。  相似文献   

9.
半导体测试时间直接影响到整个半导体测试的成本,文章提出了一种缩短半导体测试时间的新方法——并发测试。并发测试技术可以在保证测试覆盖率的前提下显著地缩减测试时间,提高半导体测试设备硬件资源的利用率。文章分析了实现并发测试需要的先决条件,阐述了应用并发测试方法的实现流程,并给出了应用并发测试方法节省测试时间的实例。  相似文献   

10.
本文首先对半导体代工行业的五力模型进行了分析,主要包括产品即半导体芯片的替代品、半导体代工行业潜在的进入者、供应商、半导体代工业客户和现有竞争对手等的分析。通过五力模型的分析,清晰的描绘了整个半导体代工业的环境。其次运用了SWOT分析方法对联华电子半导体公司的优势、劣势、机会和威胁进行了简要分析,以及简要分析了联华电子半导体公司的发展战略选择。  相似文献   

11.
半导体激光器的稳定性更取决于电流控制器。实际中的电流源在应用于半导体激光器中的时候,仍有许多需要改进的地方。在这篇文章中,笔者描述了一种小功率半导体激光器的新型电源的设计方法。  相似文献   

12.
对半导体硅片进行薄层电阻测试的过程中,当探针接触半导体材料表面,将向表面材料中注入载流子,这将影响薄层电阻测量数据的误差,文章分析了注入的非平衡载流子对测试精度的影响,讨论了注入造成影响的原因,得出测试过程中为减小注入的影响而采用的合适的测试条件。  相似文献   

13.
半导体激光器最早是通过纯硬件电路的控制模拟来进行驱动。文章以半导体激光器为研究对象,简要地阐述了半导体激光器和驱动电源的基本概念和含义,详细地分析了半导体激光器对驱动电源的基本要求,深入地探讨了半导体激光器驱动电源的设计,以期为相关方面的研究者和设计者提供参考和帮助。  相似文献   

14.
随着科学技术的不断进步,人们对半导体的研究越来越成熟。半导体中的电子空穴在库仑互相作用下形成的光电子器件,将他们所特有的物理性质进行了深入研究,从而应用到实际生活当中。现在的半导体光电子器件对于我国未来的科研发展有着重要作用,近年来大家对于利用半导体光电子器件的方面越来越广泛,我国更加重视半导体光电子器件领域当中的发展。文章对于半导体光电子器件的应用发展作为研究方向,提出一些已经应用半导体光电子器件的领域。  相似文献   

15.
经过了九十年代半导体企业的蓬勃发展和高毛利回报和2000年之后的各种经济危机,半导体企业的晶圆代工已经进入了薄利时代。在这样的背景下,运用过程控制,提升产品质量,降低废品率及成本,成为企业的重要组成部分。本文着重描述了SPC在半导体企业的应用过程及效果验证。  相似文献   

16.
半导体测试时间直接影响到整个半导体测试的成本,文章提出了一种缩短半导体测试时间的新方法——并发测试.并发测试技术可以在保证测试覆盖率的前提下显著地缩减测试时间,提高半导体测试设备硬件资源的利用率.文章分析了实现并发测试需要的先决条件,阐述了应用并发测试方法的实现流程,并给出了应用并发测试方法节省测试时间的实例.  相似文献   

17.
在信息化时代的今天,信息工业的坚强后盾就是高速发展的电子工业,而半导体硅材料又为电子工业提供了坚实的技术和物质基础。电子工业的逐步提高对硅材料质量和数量的要求,促使硅材料工业为满足这种需求而快速发展。20世纪中叶晶体管、集成电路(IC)、半导体激光器的问世,导致了电子技术、光电子技术的革命,产生了半导体微电子学和半导体光电子学,使得计算机、通讯技术等发生了根本改变,有力地推动了当代信息(IT)产业的发展。这些重大变革都是以半导体硅材料的技术突破为基础。目前,单晶硅电池效率已达24.7%,多晶硅电池效率突破19.8%。  相似文献   

18.
自1947年12月23日第一块晶体管在贝尔实验室诞生,人类从此步入了飞速发展的半导体时代。半导体产业作为电子工业基础产业和核心产业,以其独特的产业辐射能力和对相关制造产业的拉动作用,得到了越来越多国家和地区产业经济界的关注。在世界半导体制造和市场乃至消费电子产品市场的重心逐渐东移的今天,如何找到中国在这个世界产业分工版图中一席之地和发展方向尤为重要。由于该行业的特殊性和重要性,研究全球半导体产业和中国半导体产业的文献和报告零零总总,枚不胜举,本文着重尝试从产业经济学的视角,沿用SCP的产业研究范式,比较全面地观察中国引线框架行业,并结合世界半导体发展方向,以及市场需求、市场现状和技术发展的趋势,总结出未来中国引线框架行业发展方向、机遇和存在的问题。  相似文献   

19.
中国半导体行业发展越来越快,半导体设备的产能,即晶圆传送方法的研究在半导体装备研制的过程中的作用愈加关键。涂胶显影设备更需传片方法来指导装备的布局设计,提高装备产能,满足不同的严苛需求。文章根据半导体装备发展的历程,给出一般装备的产能计算公式,同时对未来晶圆传送方法提出了建议。  相似文献   

20.
日前,国家发改委公布了《半导体照明节能产业发展意见》(以下简称《意见》),表示将鼓励国产装备,建立国产装备的风险补偿机制,支持关键设备国产化。《意见》提出了我国半导体照明节能产业的发展目标,到2015年,半导体照明节能产业产值年均增长率在30%左右;产品市场占有率逐年提高,  相似文献   

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