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《中国高校技术市场》2001,(3):30-30
英国《自然》杂志1月18日发表了中国科技大学侯建国、杨金龙教授和朱清时院士及其合作者用低温扫描隧道显微镜(STM)直接获得具有化学键分辨率的C60单分子图像以及利用该高分辨成像技术发现一种新的分子取向畴结构的成果。这是中国科大的科学家继去年在国际上首次确认C60分子在硅表面的取向姿态后,在G60单分子研究中又取得的一项重大进展。该校兼职教授、美国Rowland科学研究所的陈东敏博士合作参与了本项研究工作。 相似文献
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