一种电子产品包装缓冲件性能测试极其结构优化设计新方法

为了保证电子产品在运输和装卸过程中不被损坏，电子产品包装设计工程师常常使用传统的包装设计方法来设计包装，但这种方法具有很大的盲目性，可能会导致过度包装或包装不足等问题，这样，既不能保证电子产品在运输装卸过程中的可靠性，又会导致木材等包装材料资源的浪费。为了设计出经济可靠的电子产品包装，本文作者利用现代工程测试技术，提出了一整套产品包装缓冲件结构优化设计的新思路。