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在集成电路(IC)芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高的大趋势下,为尽量减少芯片制造中产生的故障导致信息系统失效,对芯片故障快速可靠精确测试及容错的需求愈加提高。测试和可靠性设计是数字IC质量保障的主要技术手段,主要包括:在芯片内部设计测试电路(可测试性设计),  相似文献   
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