低频频率特性测试仪的设计与实现

针对目前低频段的频率特性测试仪种类较少、功能单一、体积庞大、价格昂贵等问题,从硬件设计入手,通过对扫频信号输出性能指标的分析,提出了DDS信号源以及电流型反馈运算放大电路的设计方法。输入、输出衰减网络采用了Ⅱ型阻抗匹配网络,通过继电器可方便地进行控制。增加了相位测量功能,提出了采用2片幅度相位检测芯片AD8302来测量相位差以及判别相位极性的方法。使用ARM9处理器$3C2440作为控制电路的核心,将其嵌入式系统解决方案引入到测试仪中,简化了电路结构。