单模光纤弯曲损耗的计算和测试与应用

对单模光纤弯曲损耗与弯曲半径及波长的关系做了理论计算。利用简单实用的实验方法,测量了1550nm和1625nm波长下G652光纤的弯曲损耗特性。结果表明,弯曲损耗测试值与理论计算具有较好相关性,弯曲损耗不仅与弯曲半径关系密切,随着传输光波长的变化也十分明显。利用这些特性,可以设计制造多种光纤传感器、光衰减器等无源器件。文中还介绍设计并实现了一种可望在光纤线路上获得广泛应用的在线光纤损耗微调器。