磷矿石Ⅹ射线荧光光谱分析

选择基本参数法和粉末直接压片改正基体效应的手段,采用APL ADVANT XP型X射线荧光光谱仪（ Thermos Fisher公司）实现了浮选磷矿中制样主要指标P2O5、 F、 SiO2、 Al2O3、 Fe2O3、 MgO、 CaO的快速分析,各组分的精密度（N＝7） RSD＜1．0％。监控样的分析结果与化学法或熔融－XP｝ F法的结果基本吻合。