波长色散X射线荧光光谱法同时测定氧化铁皮中的多种杂质元素

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法同时测定了氧化铁皮中的铝、铜、钙、硅、镁、锰、钛、锌、磷等多种杂质元素。考察了熔剂、脱模剂以及预氧化条件等对熔片的影响;采用理论α系数校正了基体效应和元素间的干扰效应,方法的检出限在4.7-35.0μg/g之间。用本方法测定氧化铁皮试样中各杂质元素的相对标准偏差在0.4%-5.1%之间,分析结果与其他方法测定值一致。与化学法相比,该方法快速、简便、精密度好、准确度高。     

对非标准方法SCIB D1108-1、SCIB D1109及SCIB D1405的验证探讨

[目的] 为缩短检验周期,找出一种简便快速准确的分析方法.[方法] 通过比对实验,将由原上海进出口商品检验局编的<进出口商品检验方法>一书中的非标准方法SCIB D1108-1、SCIB D1109、SCIB D1405与国家标准GB 6730.10-1986、GB6730.11-86、GB6730.1509-79方法进行比对实验.[结果] 经验证,两种方法的的测定结果无显著差异.[结论] 该非标准方法能快速、准确地测定铁矿石中二氧化硅、三氧化二铝、锰矿中二氧化硅(SiO2>1%)的含量.