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X射线荧光光谱法(XRF)作为一种简便、高效、可靠的无机元素测定方法,在大气颗粒物、土壤和沉积物、固体废物等环境样品分析方面得到广泛应用,并具有广阔的发展前景。在大气颗粒物样品分析中,环境空气样品采样滤膜本底值可能大于方法测定下限;在土壤样品分析中,土壤样品制备流程烦琐。为了解决上述问题,本文参考相关标准,采用X射线荧光光谱法对分别经超声清洗、酸浸泡处理的石英滤膜和不同粒径的土壤样品进行测定。结果表明,经过超声清洗或酸浸泡处理后,石英滤膜本底值有所下降,但个别元素本底值过高,处理后仍然不能满足相关标准要求;不同粒径的土壤样品测定结果基本一致,因此在时效紧急或制样条件不便的特殊情况下,可用100目土壤样品代替200目土壤样品,然后采用X射线荧光光谱法进行分析。 相似文献
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