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六、逻辑比较器逻辑比较器一般夹在16引脚的IC上。通过比较电路,可立即显示被测试IC与参考IC之间逻辑状态的任何差异。用比较器的16个LED显示IC的某些引脚(或特定引脚)的逻辑差异,对应每个逻辑差异,有一个LED发亮。  相似文献   
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7.接通RAM 把RAM连接到系统中,运行ROM测试程序(图28)作简短的检验操作。在RAM读和写指令期间,特别要注意RAM控制信号的时标,此时故障的原因通常是地址线或数据线的短路,两线短接在一起,或一个无用的RAM响应。通过了ROM程序的验证,就可以运行RAM测试。把RAM测试程序写入存贮器的每个单元,  相似文献   
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以下介绍有关微机故障检测的总体方法,重点放在一般的测试、维修和用于微机故障检测的程序,并着重介绍软件与故障检测之间的关系。八、基本数字集成电路(IC)的故障检测技术一般的微机电路多半是数字电路(而不是模拟的或线性的电路)和集成电路(而不是分  相似文献   
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九、开发阶段的故障检测本文主要论述故障检测而不是调试。就是说,大多数过程是基于假定微机或其他系统是一次投入就能正常运行的。然而,在微机开发阶段,很难区分故障检测和调试之间的界限,对于业余爱好者和实验者来说更是如此。举一个业余爱好者的典型例子来看,他装配了一台  相似文献   
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三、逻辑脉冲发生器 1.概述一般的逻辑脉冲发生器是手提式的,用于将控制脉冲注入数字逻辑电路(如微机)中。该电子设备装在手持探针内,给TTL和其它逻辑系列电路提供自动脉冲控制。因此,逻辑脉冲对大多数微机是兼容的。脉冲幅度取决于逻辑电源电压(3~8V),它也是逻辑脉冲发生器的电源电压。  相似文献   
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此文节译自美 JohnD.Lenk 所著的《How to Troubleshoot andRepai r Microcomputers》(1980年版)一书,将分7次连载。考虑到译文的系统性,在编辑加工时对原文的标题号和图号进行了统一编排,特此说明。  相似文献   
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4.数字故障检测实例故障检测过程的第一步是根据检查时观察到的故障特征进行分析,尽可能缩小故障范围。就微机而言,它通常包括从键盘输入数据和注意监示器(CRT)屏幕的响应。此外,某些微机设计者开发了诊断程序或短程序,用来检查特定的IC或IC组的故障,应严格执行这些程序。如果没有完善的诊断程序,同时CRT的响应又属无效,前面提到过的逻辑分析器将是观察故障特征的最有效工具。象前面所讨论过的那样,  相似文献   
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