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EEPROM数据非法修改的原因分析及处理
引用本文:华焕灵.EEPROM数据非法修改的原因分析及处理[J].设备管理与维修,2000(12):23-25.
作者姓名:华焕灵
作者单位:汉江集团铅业公司板带箔厂,湖北丹江口市,442700
摘    要:1.EEPROM在数据测量中存在的问题 我厂测厚装置采用8031单片机,通过核放射的方式检测厚度。测厚计算时,单片机根据用户所设合金牌号和测量到的射线量计数值,在EEPROM中自动查表,查出该射线量所对应的厚度所在的区域,并取出该区间上下域的实际厚度值和对应的标定射线计数值,利用线性插值的方法计算厚度,同时测量计算时所需的各种参数。这样可以充分利用EEPROM停电不丢失信息,又可在线修改的特性,使用户可以很方便地根据生产的不同合金牌号,利用测厚装置提供的标定程序,制作标准标定样片进行标定,构成该合金的标定曲线,供测量使用,从而灵活测量不

关 键 词:测厚装置  EEPROM  数据非法修改  单片机

Reason Analysis and Treatment of Illicit Revise of the EEPROM Data
Hua Huanling.Reason Analysis and Treatment of Illicit Revise of the EEPROM Data[J].Plant Maintenance Engineering,2000(12):23-25.
Authors:Hua Huanling
Abstract:
Keywords:
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