|
|||||
|
|
| I_(DDQ)测试理论及技术 | |
| 引用本文： | 单涛,陶然.I_(DDQ)测试理论及技术[J].电子商务,1999(2). |
| 作者姓名： | 单涛 陶然 |
| 作者单位： | 北京理工大学 |
| 摘 要： | 介绍了ＩＤＤＱ测试的基本概念、原理、测试方法及应用，分析了深亚微米技术给ＩＤＤＱ测试带来的困难和几种可能的解决措施。 |
| 关 键 词： | CMOS电路 I_(DDQ)缺陷 故障模型 深亚微米技术 IC |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |