| X射线荧光光谱法测定铬矿中Cr、Fe、Ca、Si、S、P等元素 |
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| 引用本文： | 张立霞,曲强,宋嘉宁,黄健,袁亚忠.X射线荧光光谱法测定铬矿中Cr、Fe、Ca、Si、S、P等元素[J].检验检疫科学,2006,16(Z1):53-55. |
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| 作者姓名： | 张立霞 曲强 宋嘉宁 黄健 袁亚忠 |
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| 作者单位： | 湛江出入境检验检疫局,广东,湛江,524022 |
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| 摘 要： | 目的]选定X射线荧光光谱法测定Cr、Fe、Si、S、P等元素的背景,找出谱线重叠的校正方法.方法]采用熔融法制样,用X射线荧光光谱仪对铬矿中Cr、Fe、Si、S、P等组分进行测定,用理论α系数法进行基体效应和谱线重叠干扰校正.结果] 用该法测定进口铬矿样品,其测试结果与化学分析值基本相符,回收率96.3%～103.2%范围.结论]该方法简便、快速、准确,能满足日常分析要求.
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| 关 键 词： | 铬矿 X射线荧光光谱 理论α系数法 基体效应 谱线重叠干扰 |
DETERMINATION OF Cr Fe Ca Si S AND P ELEMENTS IN CHROME ORES BY X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY |
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| ZHANG Lixia,QU Qiang,SONG Jianing,HUANG Jian,YUAN Yazhong.DETERMINATION OF Cr Fe Ca Si S AND P ELEMENTS IN CHROME ORES BY X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY[J].Inspection and Quarantine Science,2006,16(Z1):53-55. |
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| Authors: | ZHANG Lixia QU Qiang SONG Jianing HUANG Jian YUAN Yazhong |
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