用X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量应注意避免的误区 |
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引用本文: | 佟壮为,林雅杰.用X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量应注意避免的误区[J].活力,2005(2):188-188. |
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作者姓名: | 佟壮为 林雅杰 |
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作者单位: | 黑龙江省哈尔滨产品质量监督检验所,哈尔滨150001 |
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摘 要: | 随着国内黄金交易市场的全面开放,无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无损检测应用X荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。
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关 键 词: | 无损检测 分析技术 贵金属 首饰 荧光 X射线 注意 含量 黄金交易市场 全面开放 国内 验货 |
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