FLASH测试的研究分析 |
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引用本文: | 魏英歌.FLASH测试的研究分析[J].中国电子商务,2012(9):86-87,89. |
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作者姓名: | 魏英歌 |
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作者单位: | 浙江省杭州市士兰微电子股份有限公司,浙江杭州,310012 |
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摘 要: | Flash技术是当今存储技术的主流,它基于EPROM和E2PROM混合的技术。目前,FlashMemory被集成在绝大多数soc芯片中,于是FIashMemory测试就成了SoC电路测试中必不可少的一个步骤。本文通过对FlashP.OM的工作原理进行分析,详细解总FlashCELL,分别描述了NANDFlash和NoRFlash的工作方法。对Flash ROM的失效与可靠性问题及随之而来的测试要点进行列举,然后通过NoRFlash的一个典型应用进行分析,详细描述了其内嵌的Flash的用户模式和各种测试模式,以及解释了测试模式的意义,并对测试中用到的部分专业名词进行了解释。
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关 键 词: | Flash Memory NOR FLASH 测试方法 芯片测试 |
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