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| ICP—AES法测定氧化镧中其它稀土杂质时基体光谱干扰的校正研究 | |
| 引用本文： | 张荣林.ICP—AES法测定氧化镧中其它稀土杂质时基体光谱干扰的校正研究[J].检验检疫科学,2000,10(1):32-34. |
| 作者姓名： | 张荣林 |
| 作者单位： | 天津检验检疫局 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | ICP-AES法 测定 氧化镧 稀土元素 杂质 光谱干扰 校正研究 电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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