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简易导电薄膜方块电阻测试仪
引用本文:赵立波.简易导电薄膜方块电阻测试仪[J].活力,2010(2):96-96.
作者姓名:赵立波
作者单位:哈尔滨佛雷克斯热能技术发展有限公司,黑龙江哈尔滨,150000
摘    要:本文基于四探针法的测量原理,设计了一种简易的导电薄膜方块电阻测试仪。该测试仪设计了一个稳定可靠的可调恒流源,并在此基础上设计了量程转换电路和显示电路,从而可以对方块电阻值在0-2×106Ω/□范围内的ITO膜进行准确测量。

关 键 词:导电薄膜  方块电阻

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Abstract:
Keywords:
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