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| 芯片的腐蚀 | |
| 引用本文： | 任建,刘斌,付英.芯片的腐蚀[J].企业技术开发,2009,28(9):127-127. |
| 作者姓名： | 任建 刘斌 付英 |
| 作者单位： | 沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳110870 |
| 摘 要： | 集成电路的逆向设计主要是对集成电路芯片的版图解剖，它不仅决定着集成电路的功能是否正确，而且对集成电路的性能、成本与功耗也会有很大程度的影响。对集成电路版图进行的解剖是能否最终实现电路的性能和最低功耗的关键。 |
| 关 键 词： | 集成电路 逆向设计 版图解剖 |
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