VI曲线测试盲区问题期刊界 All Journals 搜尽天下杂志传播学术成果专业期刊搜索期刊信息化学术搜索

VI曲线测试盲区问题

作者姓名：	杨宇明

作者单位：	北京正达时代电子技术有限公司

摘要：	VI曲线测试盲区问题比较突出,但是由于缺乏系统性研究,存在许多知识空白。结合理论分析和实践经验,总结VI曲线测试盲区问题的成因和形式,并介绍一种有效的解决方案。
本文献已被 CNKI 等数据库收录！