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| 创新的成功率和风险 | |
| 作者姓名： | 李绍远 |
| 作者单位： | 神州数码管理系统有限公司 |
| 摘 要： | 相比用产品的销售状况来判定产品生命周期的方式,这种以消费者对产品的接受和满意情况为依据的判定方法,更具有准确性。 |
| 关 键 词： | 创新者 产品生命周期 摩尔定律 利基市场 风险 功率 大众市场 计算机芯片 科技产业 集成电路 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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