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| VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟 | |
| 引用本文： | 杨谟华,方朋.VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟[J].电子商务,1998(12). |
| 作者姓名： | 杨谟华 方朋 |
| 作者单位： | 电子科技大学(杨谟华)，美ＡＭＤ公司(方朋) |
| 摘 要： | 论述了ＶＬＳＩ／ＵＬＳＩ可靠性的监测与模拟领域的技术背景、研究特点、技术进展与现代监测分析技术，并进而讨论了ＶＬＳＩ可靠性工程技术发展趋势。 |
| 关 键 词： | VLSI／ULSI可靠性 监测与模拟 BERT 寿命 失效率 研究热点 |
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