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自主研发投入、国际技术溢出路径与区域技术创新水平——基于制度质量视角的动态门限模型分析
作者姓名:聂秀华  吴青
作者单位:对外经济贸易大学 国际经济贸易学院,北京 100029,对外经济贸易大学 国际经济贸易学院,北京 100029
基金项目:国家自然科学基金青年项目央企'换帅'与控股上市公司盈余管理
摘    要:

关 键 词:自主研发投入  国际技术溢出路径  区域技术创新  动态面板模型  动态门限效应
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
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