多元自相关的HotellingT~2控制图研究

为了解决传统统计过程控制中统计量之间不满足相互独立的现象,利用Hotelling T~2统计量构造残差控制图,建立了多元自相关模型,研究了在多元自相关情况下控制图的控制效果,并在参数已知的前提下构造统计量,引出了过程偏移量的概念。通过蒙特卡洛随机模拟的试验方法并引入平滑系数得出在不同偏移量λ下的平均运行链长,拟合出平均运行链长ARL和偏移量λ之间的函数关系,最后用算例验证了T~2统计量的残差控制图对出现偏移的多元自相关过程有管控作用。