矿物中钨和钼x射线的分析

科学技术的发展,推动了各种高新技术行业的飞速进步,对于稀有矿产资源的需求量也在日益增加。钨和钼作为现代工业中重要的矿产资源,在地壳中的含量较少,而且存在着伴生的现象,其检测工作直接关系着两种金属的勘探和开采。文章利用熔片X射线荧光光谱法,对矿物中的钨和钼进行了测定和分析。实践证明,这种方法在测定矿物中钨和钼含量方面具有良好的效果。