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杂志ISSN号
存储器测试算法及诊断覆盖率研究
作者姓名:
陈金鸿
谢亚莲
作者单位:
上海理工大学;上海工业自动化仪表研究所;
摘 要:
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。
关 键 词:
存储器
测试算法
诊断覆盖率
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