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| ICT测试的局限性 | |
| 引用本文： | 刘书博.ICT测试的局限性[J].中小企业管理与科技,2011(4). |
| 作者姓名： | 刘书博 |
| 作者单位： | 哈尔滨市天健高新技术有限公司 |
| 摘 要： | 因为ICT测试的目的是为检查电子产品在制程中的短断路,错件,漏件等问题,并不严格要求测量精确度.在测试编制程序时,只要在设定的上下限范围内即算作"PASS".所以ICT的测量较偏重"相对值"而非"绝对值".在实际的电路板上,大量各式主、被动组件通过串并联方式连接起来.在下述情形中,ICT测试将无法测试或无法准确测试(注下述提到的小电阻,大电阻或小电容,大电容均是指其阻值或容值的大小). |
| 关 键 词： | ICT测试 局限性 |
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