X射线荧光光谱法在环境监测中的应用研究

X射线荧光光谱法（XRF）作为一种简便、高效、可靠的无机元素测定方法，在大气颗粒物、土壤和沉积物、固体废物等环境样品分析方面得到广泛应用，并具有广阔的发展前景。在大气颗粒物样品分析中，环境空气样品采样滤膜本底值可能大于方法测定下限；在土壤样品分析中，土壤样品制备流程烦琐。为了解决上述问题，本文参考相关标准，采用X射线荧光光谱法对分别经超声清洗、酸浸泡处理的石英滤膜和不同粒径的土壤样品进行测定。结果表明，经过超声清洗或酸浸泡处理后，石英滤膜本底值有所下降，但个别元素本底值过高，处理后仍然不能满足相关标准要求；不同粒径的土壤样品测定结果基本一致，因此在时效紧急或制样条件不便的特殊情况下，可用100目土壤样品代替200目土壤样品，然后采用X射线荧光光谱法进行分析。