首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

逻辑门电路电流测试方案的设计与应用
引用本文:汪芳,王兵,王美娟. 逻辑门电路电流测试方案的设计与应用[J]. 工业技术创新, 2022, 9(1): 90-96. DOI: 10.14103/j.issn.2095-8412.2022.01.014
作者姓名:汪芳  王兵  王美娟
作者单位:无锡力芯微电子股份有限公司,江苏无锡 214028
摘    要:电流测试是逻辑门电路量产测试的重点和难点。为逻辑门电路设计了一套电流测试方案:一是构建了电流测量单元,探讨了输入缓冲电路、差分放大电路、抗混叠滤波器、偏置电路和模数转换电路等模块的协同机制;二是搭建了电流测量单元仿真模型,对直流输出、瞬态响应、输出噪声关键性能指标进行评估。以八位串入并出寄存器74HC595芯片为测试对象,对比了电流测试方案与商用自动测试设备(ATE)的静态电流、输入端口漏电流、输出驱动电流等参数,最大相对误差仅为3.26%,电流测试方案能够满足量产需求。有效解决了商用ATE在进行电流测试时资源利用不足的问题,可以在芯片生产过程中得到较好推广。

关 键 词:逻辑门电路  量产测试  电流测试  自动测试设备(ATE)  抗混叠滤波器  74HC595芯片

Design and Implementation of Current Test Scheme for Logic Gate Circuits
WANG Fang,WANG Bing,WANG Meijuan. Design and Implementation of Current Test Scheme for Logic Gate Circuits[J]. Industrial Technology Innovation, 2022, 9(1): 90-96. DOI: 10.14103/j.issn.2095-8412.2022.01.014
Authors:WANG Fang  WANG Bing  WANG Meijuan
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号