微波组件测试系统安全性策略 |
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引用本文: | 孔令华,陈兆国,徐欣欢.微波组件测试系统安全性策略[J].数据,2022(4):54-56. |
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作者姓名: | 孔令华 陈兆国 徐欣欢 |
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作者单位: | 南京电子技术研究所 |
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摘 要: | 微波组件测试系统具有自动控制、自动采集、数据处理等功能,可实现组件的高效率、高精度、多通道、全指标测量,是微波组件批量生产的重要模式。在测试系统的研制和使用过程中,存在一些常发故障,影响了测试系统的推广使用。本文系统重点阐述了测试系统的安全性设计原则、常见故障分类,并提出了相应安全性策略,进而提出了测试系统软、硬件的改进措施,并结合实际案例验证了改进措施的有效性。
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关 键 词: | 微波组件 测试系统 安全性策略 信号中枢 信号过载 |
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