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| Soc芯片测试技术的发展趋势及挑战 | |
| 作者姓名： | 路承禹 |
| 作者单位： | 飞思卡尔半导体(中国)有限公司 天津 300385 |
| 摘 要： | SOC是微电子设计领域的一场革命,从整个系统的角度出发把智能核、信息处理机制、模型算法、芯片结构、各层次电路直至器件的设计紧密结合起来,在单个或少数几个芯片上完成整个系统的功能,本文介绍SOC测试技术的基本技术特点和应用概念；了解SOC测试技术发展趋势；分析SOC测试技术发展面临的问题及SOC芯片测试技术新的发展方向；通过本文讨论SOC测试技术的未来发展之路. |
| 关 键 词： | SOC 芯片 测试 技术 发展 |
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