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| 电子产品通用生产测试系统实现原理 | |
| 引用本文： | 李登希.电子产品通用生产测试系统实现原理[J].企业技术开发,2011(20). |
| 作者姓名： | 李登希 |
| 作者单位： | 福建联迪商用设备有限公司; |
| 摘 要： | 电子产品在制造系统常用的检验方法主要有ICT,信号回环测试,功能测试。上述各种的测试方法各有优缺点,适合不同的制造规模的生产企业采用。文章介绍了将ICT、信号回环测试、功能测试三者测试方法结合起来的一种通用的生产测试系统的实现原理。 |
| 关 键 词： | ICT 回环 功能测试 |
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