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半导体硅技术发展的新方向──SiGe/Si异质结器件
作者姓名:邹德恕  陈建新
作者单位:北京工业大学
摘    要:简述了SiGe/Si异质结器件的基本原理,锗硅合金的基本性质,及发展现状。

关 键 词:SiGe应变层,能带工程,异质结
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