适用于δ-相关解扩的扩频码检验方法

基于Welch内积定理（IC定理），导出了归一化零时延互相关函数或零时延内积的绝对最大 值δ0 的三条基本特性，从而把Welch内积定理演变成了适用于计算量较小、解扩增益较高、有峰 值、无旁瓣的δ 相关解扩的扩频码检验方法，即“实用Welch内积定理-扩频码检验方 法 ”，为作者拟定的“δ/θ型基带相关检测/解扩方案”(电讯技术，2012，52(9)：1438 -1442)的工程应用奠定了扩频码检验与设计的理论基础。这两个检验方法与现存经典（含We lch）扩频码检验方法在参数、结构、判决方式等方面都不相同。