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| 电子设备的可靠性快速增长试验技术 | |
| 作者姓名： | 纪春阳 汪凯蔚 |
| 作者单位： | 工业和信息化部电子第五研究所; |
| 摘 要： | 引售可靠性增长试验是GJB450A<装备可靠性工作通用要求>中规定的一个工作项目(403),其目的在于有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进的有效性.对于电子设备的全寿命周期.在工程研制的中期和使用之后的改型研制通常会开展可靠性增长试验,前者是为了达到研制可靠性目标而进行的可靠性研制试验,后者通常是产品在使... |
| 关 键 词： | 试验时间 电子设备 可靠性强化试验 快速增长 可靠性试验剖面 试验技术 可靠性增长试验 加速试验 故障 |
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