|
|||||
|
|
| 提质降损方法初探 | |
| 引用本文： | 杨俊智.提质降损方法初探[J].标准化报道,1995,16(3):38-40,13. |
| 作者姓名： | 杨俊智 |
| 作者单位： | 甘肃工业大学管理工程系，兰州电源车辆研究所 |
| 摘 要： | 探讨了反映生产过程质量的两个指标“一次合格率”和“不良品损失率”的计算模型；首次利用“平均先进定额”概念探讨了这两个指标的制订方法，最后提出了相应的奖惩数学模型，它们将对生产过程的提质降损产生重要的推动作用。 |
| 关 键 词： | 质量管理 企业 质量控制 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |